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Statistische Mustererkennung VO 183.425, 2008WS

  • Lecturer: Thomas Melzer
  • Termin: Montag, 15:30h-17:00h
  • Ort: Seminarraum 183/2

Organisation:

Aktuelles:

 

Prüfung vom 25.01.2010

0848108 HORNACEK MICHAEL     1
0525349 LIMBECK PHILIP            3
0525873 GELBMANN WOLFGANG 2
0525740 BACHLER MARTIN          2
0126609 SCHLEGL THOMAS         1
0725329 BRUNNER HELMUT         2
0406109 HOLZER MARKUS           3
0927045 DUPRE MARC ANTOINE  3
0125728 RITTLER THOMAS           4

Einsichtnahme:
Mo, 01.02.2010, Büro Melzer, CB 03 14, Gußhausstr. 25-29 (EI-Gebäude), 3ter Stock
11:00
Voranmeldung per e-mail erbeten

Vorlesungsfolien

Einführung, Perceptron, Statistische Grundlagen, Bedingte Verteilungen, Bayes-Classifier, Loss & Risk, Multivariate Verteilungen, Kovarianz-Matrix, Regression, Multivariate Normalverteilung, Diagonalisierung, KLT, Bayes-Klassifikation für multivariat normalverteile Mermale, nicht-parametrische Methoden

Singular Value Decomposition
Ausführliche Diskussion der Singular Value Decomposition (SVD) und generalisierter Eigenwert-Probleme. Nur für Interessierte, daher nicht prüfungsrelevant.

Robust Parameter Estimation in Computer Vision
Guter Übersichtsartikel von Chuck Stewart zum Thema robuste Schätzung. Online verfügbar auf der Homepage des Autors (unter recent publications).