Pattern Recognition and
Image Processing Group
Institute of Computer Graphics and Algorithms
PRIP Fakultät für Informatik, TU Wien Technische Universität Wien Fakultät für Informatik

186.837 SE Seminar aus Computer Vision und Mustererkennung

Additional info in TISS

First lecture: DO, 02.03.2017, 15:00 - 18:00 c.t.: SEminarraum 186, Favoritenstr.9, 5.Stock

Vortragende:

Walter G. Kropatsch und Nicole M. Artner

Ziel der Lehrveranstaltung:

Ziel des Seminars ist selbständiges Literaturstudium, Zusammenstellung der Inhalte in einer wissenschaftlichen Ausarbeitung und ein didaktisch aufbereiteter Vortrag über ein Thema aus dem Bereich Computer Vision und Mustererkennung.

Inhalte

Verschiedene Spezialthemen aus der Computer Vision und Mustererkennung sollen intensiv kennengelernt werden. Bei geeigneter Teilnehmerzahl findet der Endvortrag als Minikonferenz statt.

Beurteilung: orientiert sich an der Qualität und Originalität der mündlichen und schriftlichen Darstellung der Themen sowie der dafür notwendigen Vorarbeiten.
Es gilt grundsätzlich Anwesenheitspflicht!

Unterlagen

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